REDLAB 359 – NANOMEC

  • José Sánchez del Río / Srdjan Milenkovic
  • 91 549 34 22 1043

Microscopio de doble haz FIB-FEGSEM (Helios NanoLab 600i, FEI)

Totalmente equipado con detector STEM, microanálisis de rayos X (EDS) y difracción de retrodispersión de electrones (EBSD) para análisis de orientación microestructural, química y cristalográfica en 3D. El sistema también está habilitado para la preparación de muestras TEM específicas, micro mecanizado y diseño mediante fresado por haz de iones.

Utilización en el proyecto: Caracterización microestructural avanzada de materiales.

Laboratorio NANOMEC. Instalaciones de IMDEA Materiales (Tecnogetafe)

Microscopio FEG S/TEM (Talos F200X, FEI)

Combina imágenes S/TEM y TEM de alta resolución con un sistema integrado de espectroscopía de rayos X de dispersión de energía (EDS) totalmente compatible con tomografía 3D de alta resolución. También está equipado con una plataforma PicoIndenter para realizar pruebas nanomecánicas in situ.

Utilización en el proyecto: Caracterización microestructural avanzada de materiales.

Laboratorio NANOMEC. Instalaciones de IMDEA Materiales (Tecnogetafe)

Microscopio electrónico de barrido (EVO MA15, Zeiss)

Microanálisis químico EDS Oxford INCA 350, con regulación automática de presión de 10 a 400 Pa para trabajar con muestras no metálicas, sin necesidad de metalización.

Utilización en el proyecto: Caracterización microestructural de materiales.

Laboratorio NANOMEC. Instalaciones de IMDEA Materiales (Tecnogetafe)

Difractómetro de rayos X (Empyrean, PANalytical)

Difractómetro de investigación multipropósito para análisis de fases, textura y determinación de estrés residual, así como reflectometría. Está equipado con una plataforma de rayos X de última generación para el análisis de polvos, películas delgadas, nanomateriales y muestras sólidas. El dispositivo está provisto de tubos intercambiables de radiación de Cu y Cr, con tres etapas de muestra (estándar, spinner de transmisión de reflexión y Chi-Phi-x-y-z), un cambiador de muestras automatizado y un detector lineal (PIXcel 1D).

Utilización en el proyecto: Identificación de fases, estrés residual y caracterización de texturas de materiales.

Laboratorio NANOMEC. Instalaciones de IMDEA Materiales (Tecnogetafe)

Sistema de inspección no destructiva por ultrasonido C-scan (TecniTest)

Equipo para detectar y evaluar defectos mediante técnica de ultrasonidos no destructivos. El sistema encuentra y determina el tamaño y la posición de los defectos típicos en los materiales compuestos (huecos, delaminaciones, grietas, etc.).

Utilización en el proyecto: Evaluación no destructiva de materiales compuestos.

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Microscopio de fuerza atómica (Park XE150)

Este equipo tiene como función la caracterización a nanoescala de materiales, incluida la microscopía de fuerza atómica sin contacto y de contacto. Entre las características adicionales se incluyen la microscopía magnética, microscopía térmica, nanolitografía y una etapa de alta temperatura para realizar mediciones de hasta 250ºC.

Utilización en el proyecto: Caracterización de superficie.

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Nanotomógrafo 3D de rayos-X asistido por ordenador (Nanotom, Phoenix)

Equipo cuya función es la visualización tridimensional y análisis cuantitativo de características microestructurales en una amplia variedad de materiales, que van desde polvos metálicos y minerales hasta polímeros y biomateriales. El escáner combina una fuente de rayos X de 160 KV para estudiar materiales altamente absorbentes junto con un tubo nanofoco para proporcionar alta resolución (detección de detalle de 0.2-0.3 µm).

Utilización en el proyecto: Caracterización no destructiva de materiales.

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Etapa mecánica para pruebas in-situ en tomografía de rayos X (μTM, IMDEA Materiales)

Realizar pruebas mecánicas in situ bajo radiación de rayos X en sistemas de tomografía asistida por ordenador. La etapa, diseñada y desarrollada internamente, puede usarse tanto en instalaciones de radiación sincrotrón como en sistemas de tomografía de laboratorio, para la investigación del inicio y la propagación del daño en una amplia variedad de materiales.

Utilización en el proyecto: Pruebas mecánicas in situ de materiales fabricados.

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Sistema de nanoindentación a alta temperatura (Nanotest Vantage, Micro Materials)

Este instrumento permite realizar nanoindentación a temperaturas de hasta 750 °C, así como en entornos inertes. El instrumento utiliza el calentamiento de la punta y de la muestra, lo que garantiza la estabilidad para pruebas de larga duración, incluidos ensayos de fluencia. Este es el primer instrumento específico de nanoindentación de alta temperatura en España.

Utilización en el proyecto: Caracterización micromecánica de materiales.

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Sistema de nanoindentación (TI950, Hysitron)

Sus capacidades incluyen nanoindentación con varios cabezales de carga adaptados para diferentes aplicaciones (resolución de carga máxima, 1 nN), mediciones dinámicas, pruebas de raspado y desgaste, imágenes SPM y mapeo de módulo realizado con la misma punta de indentación.

Utilización en el proyecto: Para realizar nanoindentación instrumentada, así como otros ensayos nanomecánicos, como la compresión micropilar en una serie de materiales, incluidas las pruebas a temperaturas de hasta 500 ºC.

Laboratorio NANOMEC. Instalaciones de IMDEA Materiales (Tecnogetafe)

Nanoindentador in situ para realizar pruebas mecánicas a temperatura elevada dentro de un SEM (PI87, Hysitron)

Etapa de nanoindentación para realizar pruebas mecánicas dentro de un microscopio electrónico de barrido (SEM), para la observación in situ de los mecanismos de deformación. La etapa permite la obtención simultánea del registro de desplazamiento de carga y las imágenes SEM durante las pruebas mecánicas (nanoindentación, microcompresión, microflexión, microtensión) de volúmenes de micrómetros y submicrómetros, incluidos los ensayos a temperatura elevada.

Utilización en el proyecto: Caracterización micromecánica in situ de materiales.

Laboratorio NANOMEC. Instalaciones de IMDEA Materiales (Tecnogetafe)

Micromáquina de Ensayos Mecánicos (Kammrath and Weiss)

Equipo cuyas funciones son: observar la superficie de la muestra al ponerla bajo la luz, escaneo de electrones, haz de iones enfocado, escaneo ultrasónico o microscopía de fuerza atómica. Se encuentran disponibles dos etapas preparadas para pruebas de tensión/compresión y de tensión de fibra, con cargas máximas de 10 kN y 1 N, respectivamente. Funcionan hasta 650 ºC.

Utilización en el proyecto: Caracterización mecánica in situ de materiales.

Laboratorio NANOMEC. Instalaciones de IMDEA Materiales (Tecnogetafe)

Dilatómetro de alta resolución (DIL 402 Expedis Supreme)

Es un dilatómetro horizontal de varilla de empuje para la determinación de cambios dimensionales en función de la temperatura (en el rango de temperatura de 20-1600 oC) según las normas DIN EN 821, DIN 51045, ASTM E831 o ASTM E288. Las mediciones pueden llevarse a cabo en vacío, atmósfera de gas inerte u oxidante. El dilatómetro está equipado con un novedoso sensor optoelectrónico «NanoEye» con una resolución inigualable (0.1 nm) en todo el rango de medición, que permite la medición secuencial directa de máxima precisión de muestras de diferentes longitudes y con un comportamiento de expansión diferente.

Utilización en el proyecto: Mediciones del coeficiente de expansión térmica, determinación de las temperaturas de transformación de fase y análisis de la cinética de precipitación.

Laboratorio NANOMEC. Instalaciones de IMDEA Materiales (Tecnogetafe)